在當(dāng)今工業(yè)生產(chǎn)中對納米級表面結(jié)構(gòu)的了解日益重要。這些應(yīng)用包含了從內(nèi)燃機(jī)磨損到新型潤滑涂層和防腐蝕保護(hù)層，以及現(xiàn)代車用噴漆，從半導(dǎo)體工業(yè)到技術(shù)。傳統(tǒng)方法已經(jīng)無法處理上述的長度空間。但同時(shí)可以看到，對表面、涂層和功能材料表面盡可能全面地就性能進(jìn)行描述日益成為工業(yè)界和科研機(jī)構(gòu)的迫切需求，例如在局部極小的尺寸內(nèi)對化學(xué)反應(yīng)過程，腐蝕和磨損進(jìn)行觀察等等。原子力顯微鏡作為極其靈活的圖像檢測方法尤其適合這些應(yīng)用，它的測量范圍覆蓋了從0.2毫米到微米納米直至原子晶體結(jié)構(gòu)。而這樣大的測量范圍只需使用同一臺(tái)設(shè)備。隨著BMT多用掃描儀AFM 3000的研制成功，市場上終于出現(xiàn)了一臺(tái)掃描原子力顯微鏡，它的突出特點(diǎn)是模塊化結(jié)構(gòu)、高度靈活性而且操作極其簡便。它的測量模塊運(yùn)用了化學(xué)對比度成像(Chemical Contrast Imaging (CCI-AFM) ，這種新技術(shù)可以檢測到表面極其微量的化學(xué)變化，這樣就可以跟蹤腐蝕、磨損、氧化等等物理和化學(xué)反應(yīng)實(shí)際發(fā)生的位置，這些反應(yīng)通常正是在微米和納米尺度上。用多用成像軟件包可以在多個(gè)采集點(diǎn)上同時(shí)采集圖像信息：從采樣點(diǎn)表面形貌到摩擦，磨損和接觸剛性，一直到化學(xué)對比度。
◆ 多用掃描 測量頭, 就的穩(wěn)定性作了優(yōu)化
◆ 多測量模式選擇: 接觸模式，非接觸模式，震蕩接觸模式，力調(diào)制顯微鏡，摩擦顯微鏡和粘合顯微鏡，力譜儀，相位對比度。
◆ 使用同一個(gè)測量頭可達(dá)到的掃描范圍從納米級到面積為 200 µm x 200µm
◆ 包括化學(xué)對比度成像 (CCI-AFM) 模式
◆ 包括保護(hù)氣體選項(xiàng)
◆ 可直接在樣品實(shí)地的溫度和濕度條件下測量
◆ 包括可在液體中測量的工作方式
◆ 極有用途的附加模塊包括：納米電鍍(GalvanoScan)、納米摩擦和磨損檢測 (TriboScan) 以及腐蝕 (CorroScan) 和納米構(gòu)造 (LithoScan)
◆ 可按用戶需要提供相匹配的軟件模塊 根據(jù)特
◆ 殊要求可提供應(yīng)用實(shí)例
| 試樣尺寸 | 25 mm x 25 mm |
| 調(diào)節(jié)距離 | 在x，y方向可達(dá)20 mm x 20 mm |
| 步進(jìn)電機(jī) | z方向可達(dá)15 mm |
| 環(huán)境條件 | 普通環(huán)境條件常規(guī)運(yùn)行(接觸空氣，室溫)；此外也可在保護(hù)氣體和液體中工作 |
| 掃描儀 | x， y，z方向壓電掃描。 掃描范圍x,y方向可達(dá) 200mm |
| 分辨率 | 可達(dá)原子尺度 |
| 步進(jìn)電機(jī) | 15 mm行程 |
| 入口 | 從上方和側(cè)向有直接光學(xué)入口 |
| 電子元件 | 數(shù)字控制器，PC機(jī)經(jīng)USB接口驅(qū)動(dòng) |
| 軟件 | 用戶友好的測量和分析軟件包 |
| 數(shù)據(jù)采集 | 并行采集顯示多個(gè)測量通道(例如 表面形貌和化學(xué)對比度) |
| 數(shù)據(jù)分析 | 功能全面的圖像處理和數(shù)據(jù)分析軟件(包含統(tǒng)計(jì)函數(shù)、粗糙度分析等等) |
| 校準(zhǔn) | 供貨范圍包含校準(zhǔn)模板 |
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