專業(yè)銷售 德國Innowep設(shè)備OPTOTOP 高精度3-D輪廓剖面計
優(yōu)點: ※ 簡單方便的操作 ※ 快速的數(shù)據(jù)采集 ※ 對各種樣品,材料和涂裝進行智能檢測。 ※ 線性輪廓的微粗糙度值 ※ 粗糙度值測試(構(gòu)造–紋理分析) ※ 實現(xiàn)以2-D線性剖面顯示,3-D顯示表面輪廓及高度剖面 |
技術(shù)參數(shù): ※ 感應(yīng)器:色光式共軛焦 ※ 測量范圍Z*:300μm ※ 解析度Z*:12nm 25nm 75nm ※ 側(cè)向解析度:1.55μm 2μm 4μm ※ 測量感應(yīng)距離: ※ 測量頻率:30Hz,100Hz,300Hz,1kHz ※ 標(biāo)準(zhǔn)XY軸試驗范圍:60x ※ 移動速度:0.1 ~ ※ 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺大?。?/span>165x |
光學(xué)表面測量系統(tǒng):用于在無接觸方式下,測量表面輪廓,高復(fù)雜的納米,微米及宏觀的幾何結(jié)構(gòu),應(yīng)用于研究與開發(fā),入庫檢驗,質(zhì)量管理及不合格分析。
優(yōu)點:
※ 簡單方便的操作
※ 快速的數(shù)據(jù)采集
※ 對各種樣品,材料和涂裝進行智能檢測。
※ 線性輪廓的微粗糙度值
※ 粗糙度值測試(構(gòu)造–紋理分析)
※ 實現(xiàn)以2-D線性剖面顯示,3-D顯示表面輪廓及高度剖面
技術(shù)參數(shù):
※ 感應(yīng)器:色光式共軛焦
※ 測量范圍Z*:300μm
※ 解析度Z*:12nm 25nm 75nm
※ 側(cè)向解析度:1.55μm 2μm 4μm
※ 測量感應(yīng)距離:
※ 測量頻率:30Hz,100Hz,300Hz,1kHz
※ 標(biāo)準(zhǔn)XY軸試驗范圍:60x
※ 移動速度:0.1 ~
※ 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺大?。?/span>165x
應(yīng)用范圍:
※ 對于平坦表面、有結(jié)構(gòu)表面及彎曲表面的粗糙度及結(jié)構(gòu)分析。
※ 測量宏觀和微觀的幾何結(jié)構(gòu),平面控制。
※ 表面控制,例如壓花輥(選購配件:移動式裝置)
Example:寫字用紙
Example:Freshel(佛氏聚光燈)
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