顯微拉曼測(cè)試系統(tǒng),集合了穩(wěn)定的顯微測(cè)試光路與高分辨掃描技術(shù),適用于二維材料、量子點(diǎn)、鈣鈦礦等光電材料顯微光譜的應(yīng)用。
此系統(tǒng)具有以下特點(diǎn):
1.測(cè)試準(zhǔn)確快速,無(wú)須直接接觸樣品
2.層疊式設(shè)計(jì),增加光路方便快捷
3.一機(jī)多用,光路可用于光電流測(cè)試
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介:顯微拉曼測(cè)試系統(tǒng),集合了穩(wěn)定的顯微測(cè)試光路與高分辨掃描技術(shù),適用于二維材料、量子點(diǎn)、鈣鈦礦等光電材料顯微光譜的應(yīng)用。
顯微拉曼測(cè)試系統(tǒng),集合了穩(wěn)定的顯微測(cè)試光路與高分辨掃描技術(shù),適用于二維材料、量子點(diǎn)、鈣鈦礦等光電材料顯微光譜的應(yīng)用。
此系統(tǒng)具有以下特點(diǎn):
1.測(cè)試準(zhǔn)確快速,無(wú)須直接接觸樣品
2.層疊式設(shè)計(jì),增加光路方便快捷
3.一機(jī)多用,光路可用于光電流測(cè)試
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