X射線鍍層厚度測(cè)量?jī)x
詳細(xì)描述:HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測(cè)量和材料分析的X射線熒光系統(tǒng)有超過17年的經(jīng)驗(yàn)。通過對(duì)所有相關(guān)過程包括X射線熒光測(cè)量法的精確處理和使用了的軟件和硬件技術(shù)，FISCHER公司的X射線儀器具有其的特點(diǎn)。
無二的WinFTM®(版本3(V.3)或版本6(V.6))軟件是儀器的核心。它可以使儀器在沒有標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)并保證一定測(cè)量精度的情況下測(cè)量復(fù)雜的鍍層系統(tǒng)，同時(shí)可以對(duì)包含多達(dá)24種元素的材料進(jìn)行分析(使用WinFTM® V.6軟件)
典型的應(yīng)用
◆ 單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
◆ 二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
◆ 三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
◆ 雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
◆ 雙鍍層，其中一個(gè)鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
◆ 最多24種鍍層(使用WinFTM® V.6軟件)。
◆ 分析多達(dá)4種(或24種－使用V.6軟件)元素。
◆ 分析電鍍?nèi)芤褐械慕饘匐x子濃度。
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