筱曉光子 光學(xué)波導(dǎo)拋光/光波導(dǎo)拋光和檢測(cè)系統(tǒng)
Optical Waveguide Polishing and Inspection
Cila 2.0光學(xué)波導(dǎo)，光纖陣列V型槽拋光和檢測(cè)系統(tǒng)可以拋光和檢測(cè)多種類型的光波導(dǎo)、多光纖陣列V型槽，以及需要共面、平面、傾斜或多面端面的類似組件。該系統(tǒng)配備了一個(gè)剖面圖，高分辨率攝像機(jī)，允許用戶監(jiān)控拋光過程，進(jìn)行余量去除和角度驗(yàn)證。具有精確定位能力的明視場(chǎng)檢測(cè)系統(tǒng)，能夠?qū)υO(shè)備拋光端面進(jìn)行質(zhì)量檢測(cè)。
產(chǎn)品特點(diǎn)
缺陷和無斷裂零件澆注，精確到+/-0.01度
鈦/聚醚醚酮混合嵌件夾具，用于提高亞微型零件的耐用性
用于較大波導(dǎo)和陣列的可調(diào)寬度夾具
精密進(jìn)料，用于精確的余量去除和長度控制(1 um長度控制)
拋光角度驗(yàn)證和長度測(cè)量的計(jì)量選項(xiàng)
利用高分辨率攝像機(jī)和精密玻璃光學(xué)器件，可定位明視場(chǎng)視頻檢測(cè)能力。通過500倍的放大率查看所有關(guān)鍵區(qū)域/邊緣
左:適用于較大波導(dǎo)和陣列的可調(diào)寬度夾具 右:適用于超小型陣列的精密夾具
玻璃、硅和類似材料的無切屑精確獲取
拋光/寄生角和長度測(cè)量
在線端面檢查、拋光/寄生角和長度測(cè)量
Optical Waveguide Polishing and Inspection
Cila 2.0光學(xué)波導(dǎo)，光纖陣列V型槽拋光和檢測(cè)系統(tǒng)可以拋光和檢測(cè)多種類型的光波導(dǎo)、多光纖陣列V型槽，以及需要共面、平面、傾斜或多面端面的類似組件。該系統(tǒng)配備了一個(gè)剖面圖，高分辨率攝像機(jī)，允許用戶監(jiān)控拋光過程，進(jìn)行余量去除和角度驗(yàn)證。具有精確定位能力的明視場(chǎng)檢測(cè)系統(tǒng)，能夠?qū)υO(shè)備拋光端面進(jìn)行質(zhì)量檢測(cè)。
產(chǎn)品特點(diǎn)
缺陷和無斷裂零件澆注，精確到+/-0.01度
鈦/聚醚醚酮混合嵌件夾具，用于提高亞微型零件的耐用性
用于較大波導(dǎo)和陣列的可調(diào)寬度夾具
精密進(jìn)料，用于精確的余量去除和長度控制(1 um長度控制)
拋光角度驗(yàn)證和長度測(cè)量的計(jì)量選項(xiàng)
利用高分辨率攝像機(jī)和精密玻璃光學(xué)器件，可定位明視場(chǎng)視頻檢測(cè)能力。通過500倍的放大率查看所有關(guān)鍵區(qū)域/邊緣
左:適用于較大波導(dǎo)和陣列的可調(diào)寬度夾具 右:適用于超小型陣列的精密夾具
玻璃、硅和類似材料的無切屑精確獲取
拋光/寄生角和長度測(cè)量
在線端面檢查、拋光/寄生角和長度測(cè)量
更新時(shí)間：2023/5/24 17:35:26
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