簡單介紹
WGJSTD-B數(shù)字式介質(zhì)損耗及介電常數(shù)測試儀是我公司*新一代通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器。它以單片計算機作為儀器的控制、測量核心，真正實現(xiàn)了Q值的數(shù)字化，電容、電感、Q值、信號源頻率都在一個液晶屏上展示出來，采用特制介質(zhì)損耗測試裝置和單位計算可以**的計算出介質(zhì)損耗及介電常數(shù)，在你操作時，再也不用去注意量程和換算單位。
WGJSTD-B介質(zhì)損耗及介電常數(shù)測試儀的詳細介紹
| 本儀器的測試回路可用被測元件L、主調(diào)諧電容C、回路的損耗電阻R構(gòu)成的串聯(lián)電路來等效，當測試回路諧振時（高頻信號源輸入信號的頻率為諧振頻率w0），主調(diào)電容上的電壓是信號源輸入電壓的Q倍，或Q=w0L/R=1/w0CR，顯然信號源頻率w0的穩(wěn)定度和精度、主調(diào)電容C的精度和分辨率、測試回路的高頻損耗R決定了儀器的品質(zhì)。模擬式的信號源穩(wěn)定性差，主調(diào)電容的分辨率和讀數(shù)精度低，使用復(fù)雜，并且不可避免地存在主觀的操作誤差。 WGJSTD-B傳承**代WGJSTD-A數(shù)碼化、人性化設(shè)計理念，采用數(shù)字化主調(diào)電容、LCD大屏幕液晶顯示全參數(shù)、DDS直接數(shù)字合成信號源三項**技術(shù)，使WGJSTD-B的技術(shù)性能、使用功能大為提升,改變了老款面板上印制的二組輔助表格計算LCQ的落后狀況，WGJSTD-B讀數(shù)清晰,無須換算，操作簡便，特別適合電子元器件的質(zhì)量分析、品質(zhì)控制、科研生產(chǎn),也可用于高等院校的材料科學(xué)、電子信息、電子通信、等專業(yè)作科研實驗儀器。 | 信號源頻率范圍 | 10KHz-60MHzDDS數(shù)字合成 | Q測量范圍 | 1-1000，自動/手動量程 | | 信號源頻率覆蓋比 | 6000 ：1 | Q分辨率 | 4位有效數(shù)，分辨率0.1 | | 信號源頻率精度 | 1×106±1個字，6位有效數(shù) | Q測量工作誤差 | <5% | | 電感測量范圍 | 20nH-2H,4位有效數(shù),分辨率0.1nH | 調(diào)諧電容 | 主電容 30-500PF，微調(diào)電容 ±3PF | | 電感測量誤差 | <5% | 調(diào)諧電容誤差/分辨率 | <1%,0.1pf | | 標準測試頻點 | 全波段任意頻率下均可測試 | Q合格預(yù)置范圍 | 1-1000聲光提示 | | 諧振點搜索 | 自動掃描 | Q量程切換 | 自動/手動 | | 諧振指針 | LCD數(shù)碼顯示 | LCD顯示參數(shù) | w0、L、C、Q、諧振指針、波段等 | |
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