通過多重采樣™ 掃描進(jìn)行樣品測量
無軸間耦合提高掃描精度
N o n - C o n t a c t ™ (真正非接觸™ )模式延長
針尖使用壽命、改善樣品保存及精度
提供用戶體驗
選項/ 模式多樣化
P a r k X E 1 5 有 適 合 大 眾 化 的 各 種 掃 描 模 式 , 能 滿 足 您的 所 有 研 究 需
1. 表 面 粗 糙 度 測 量
2. 電 性 能
3. 機(jī) 械 性 能
4. 熱 性 能
5. 磁 性 能
ParkXEC16AB.pdf
上海磊微科學(xué)儀器有限公司
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ParkXE 15 P a r kX E 1 5 有 適 合 大 眾 化 的 各 種 掃 描 模 式 , 能 滿 足 您的 所 有 研 究 需 1.表 面 粗 糙 度 測 量 2.電 性 能 3.機(jī) 械 性 能 4.熱 性 能 磁 性 能
通過多重采樣™ 掃描進(jìn)行樣品測量
無軸間耦合提高掃描精度
N o n - C o n t a c t ™ (真正非接觸™ )模式延長
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