為FA 和研究實(shí)驗(yàn)室提供精確的形貌測(cè)量解決方案 低噪聲Z 探測(cè)器可精確測(cè)量A F M 表面形貌 用真正的非接觸掃描方式節(jié)省成本。
P a r kN X 2 0 凝 聚 著 創(chuàng) 新 的 A F M 技 術(shù)
1 . 1 0 0 μ m x 1 0 0 μ m 掃 描 范 圍 的 X Y 平 板 掃 描 器
2.高 速 Z 軸 掃 描 器 , 掃 描 范 圍 達(dá) 1 5 μ m
3.低 噪 聲 X Y Z 位 置 傳 感 器
4.集 塵 編 碼 器 的 X Y 自 動(dòng) 樣 品 載 臺(tái)
5.. 自 動(dòng) 多 點(diǎn) 樣 品 掃 描
6.操 作 方 便 的 樣 品 臺(tái)
7.用 于 拓 展 掃 描 模 式 易 插 拔 擴(kuò) 展 槽
8.同 軸 高 功 率 光 學(xué) 集 成 L E D 照 明 和 C C D 系 統(tǒng)
9.掃 描 頭 滑 動(dòng) 嵌 入 式 設(shè) 計(jì)
10.. 自 動(dòng) Z 軸 移 動(dòng) 和 聚 焦 系 統(tǒng)
規(guī)格:
park_NX20_300mm170202C04AB.pdf
ParkNX20.pdf
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